测半导体的电阻,数值不稳测一个半导体的电阻,电阻表、测试线均不动,只看电阻表的读数,发现电阻表的读数在下降,不是一个稳定的电阻值,由刚开始的1.637kΩ到20分钟后的1.361kΩ,并且还在下降

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/05/05 11:53:26
测半导体的电阻,数值不稳测一个半导体的电阻,电阻表、测试线均不动,只看电阻表的读数,发现电阻表的读数在下降,不是一个稳定的电阻值,由刚开始的1.637kΩ到20分钟后的1.361kΩ,并且还在下降
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测半导体的电阻,数值不稳测一个半导体的电阻,电阻表、测试线均不动,只看电阻表的读数,发现电阻表的读数在下降,不是一个稳定的电阻值,由刚开始的1.637kΩ到20分钟后的1.361kΩ,并且还在下降
测半导体的电阻,数值不稳
测一个半导体的电阻,电阻表、测试线均不动,只看电阻表的读数,发现电阻表的读数在下降,不是一个稳定的电阻值,由刚开始的1.637kΩ到20分钟后的1.361kΩ,并且还在下降.这是为什么呢?(该半导体含碳、硅;测试时接触点用重物压住,以保证接触良好)
谢谢ztjzds和beijishier 的回答,我再找找资料,学习学习。

测半导体的电阻,数值不稳测一个半导体的电阻,电阻表、测试线均不动,只看电阻表的读数,发现电阻表的读数在下降,不是一个稳定的电阻值,由刚开始的1.637kΩ到20分钟后的1.361kΩ,并且还在下降
1.温度升高(可能是手摸增温),测试电流使半导体发热升温,电阻值下降.
2.压力升高电阻值下降.
3.光照亮度增强(照到半导体内部)电阻值下降.
这些都是半导体的特性导致的.
还有就是半导体内部触电接触不良、测试电流使半导体发热升温.

其实 ztjzds 说的第一条是有道理的,半导体随着温度的升高,电阻值会下降。因为温度升高时,半导体内部多子和少子都会增多,通电能力增强,电阻就会下降,这是原理。
至于温度为什么会升高,您排除了外部因素,那就只剩内部因素了。因为电阻表内部也是有电源的,它测试电阻的原理还是欧姆定律U=I*R。所以,随着通电时间的延长,肯定是要发热的,引起电阻变化,虽然这个温度变化我们可能无法直接感受...

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其实 ztjzds 说的第一条是有道理的,半导体随着温度的升高,电阻值会下降。因为温度升高时,半导体内部多子和少子都会增多,通电能力增强,电阻就会下降,这是原理。
至于温度为什么会升高,您排除了外部因素,那就只剩内部因素了。因为电阻表内部也是有电源的,它测试电阻的原理还是欧姆定律U=I*R。所以,随着通电时间的延长,肯定是要发热的,引起电阻变化,虽然这个温度变化我们可能无法直接感受到。
另外,半导体的电阻与电压电流的关系本身就不是线性的,大致呈指数关系。因此,测半导体电阻一般是要求输入电阻,都会记录温度,然后再转换到标准温度下。

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